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电容型套管的介质耗损因数试验




一、试验目的

测量电容型套管主电容和末屏对地的电容量和介质损耗因数tanθ,是判断高压套管是否受潮、绝缘劣化的一个重要试验项目。

二、试验方法

测量单套管主电容的电容量和介质损耗因数tanθ,可以采用西林电桥正接法测量。套管高压端加电压测量,末屏接入西林电桥测量端。

对安装于变压器上的套管测量时,应给被试套管连接的所有绕组短接加压,其余绕组短接接 地。因为未短路绕组的各部位电位和相角可能不同,通过杂散电容对被测套管的测量产生影响。对于未安装在变压器上的套管(如马上要安装到变压器上的电容型套 管),应将套管垂直竖立,中间法兰接地,套管下半部侵入合格的变压器油中。在上述测量中应将套管表面擦拭干净,排除瓷套表面脏污的影响。

RT8000  抗干扰耗测试

三、试验结果判断

DL/T 596-1996《电气设备预防性试验规程》中对油纸电容型套管的tanθ要求见下表

油纸电容型套管的tanθ


油纸电容型套管的介质损耗因数tanθ一般不进行温度换算,因为油纸电容型套管的主绝缘为油纸绝缘,其介质损耗因数tanθ与温度的关系取决于油与纸的综合性能,在现场测量温度速度内其介质损耗因数tanθ一般不会变化,所以不需要换算。电容型套管的电容值与上一次或出厂值的差别超出±5%时,应查明原因。

四、末屏对地的介质损耗因数tanθ

除测量主电容的电容量和介质损耗因数tanθ外,还需要测量末屏对地的介质损耗因数 tanθ。DL/T 596——1996《电气设备预防性试验规程》中规定当电容型套管末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时,需要测量末屏对地介质损耗因数tanθ,其值不大 于2%。测量电容型套管末屏对地的介质损耗因数tanθ对发现绝缘受潮很灵敏,测量时采用电桥反接法测量,带你呀不应大于3kV。

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